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開(kāi)關(guān)瞬態(tài)
系統(tǒng)開(kāi)關(guān)瞬態(tài)與以下內(nèi)容有關(guān):
a)主電源系統(tǒng)切換騷擾,例如電容器組的切換;
b)配電系統(tǒng)內(nèi)在儀器附近的輕微開(kāi)關(guān)動(dòng)作或者負(fù)荷變化;
c)與開(kāi)關(guān)裝置有關(guān)的諧振電路,如晶閘管;
d)各種系統(tǒng)故障,例如對(duì)設(shè)備組接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。
雷擊瞬態(tài)
雷電產(chǎn)生浪涌(沖擊)電壓的主要原理如下:
a)直接雷擊于外部電路(戶外),注入的大電流流過(guò)接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓;
b)在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生感應(yīng)電壓和電流的間接雷擊(即云層之間或云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊,這種雷擊產(chǎn)生的磁場(chǎng)) ;
c)附近直接對(duì)地放電地雷電入地電流耦合到設(shè)備組接地系統(tǒng)的公共接地路徑。
當(dāng)保護(hù)裝置動(dòng)作時(shí),電壓和電流可能發(fā)生迅速變化,并可能耦合到內(nèi)部電路。
浪涌沖擊測(cè)試及相關(guān)要求
不同的電子、電氣產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)的要求是不同的,但這些標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)大多都直接或間接引用 GB/T17626.5-1999(idt IEC 61000-4-5:199)5:《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》這一國(guó)家電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),并按其中的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。下面就簡(jiǎn)要介紹一下該標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容、試驗(yàn)方法及相關(guān)要求。
適用范圍:
適用于電氣和電子設(shè)備在規(guī)定的工作狀態(tài)下工作時(shí),對(duì)由開(kāi)關(guān)或雷電作用所產(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌(沖擊)電壓的反應(yīng)。
該標(biāo)準(zhǔn)不對(duì)絕緣物耐高壓的能力進(jìn)行試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)不考慮直擊雷。
試驗(yàn)內(nèi)容:
對(duì)電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)和控制端口在受到浪涌(沖擊)干擾時(shí)的性能進(jìn)行評(píng)定。
試驗(yàn)?zāi)康模?/span>
評(píng)定設(shè)備在遭受到來(lái)自電力線和互連線上高能量浪涌(沖擊)騷擾時(shí)產(chǎn)品的性能。
試驗(yàn)發(fā)生器
a)信號(hào)發(fā)生器的特性應(yīng)盡可能地模擬開(kāi)關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象;
b)如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中,例如在電源網(wǎng)絡(luò)中(直接耦合),那么信號(hào)發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個(gè)低阻抗源;
c)如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中(間接耦合) ,那么信號(hào)發(fā)生器能夠模擬一個(gè)高阻抗源。
對(duì)于不同場(chǎng)合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口,由于相應(yīng)的浪涌(沖擊)瞬態(tài)波形,各不相同,因此對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)發(fā)生器的參數(shù)也各不相同。
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